Chimie & Matériaux
Les secteurs de la chimie et des matériaux font appel à des techniques de caractérisation de surface de plus en plus précises : analyse de revêtements, évaluation de traitements, mesure de films minces ou étude du comportement mécanique local. Altimet fournit des instruments de topographie optique sans contact capables de répondre à ces besoins, aussi bien en laboratoire de R&D qu'en environnement industriel.
Grâce à la combinaison de nos capteurs chromatiques et interférométriques, nos systèmes AltiSurf© permettent de caractériser des matériaux très variés — métaux, polymères, céramiques, revêtements — avec une résolution nanométrique.
Métrologie optique pour la chimie et les matériaux
La caractérisation des matériaux nécessite des outils capables de mesurer avec précision des surfaces fragiles, réfléchissantes ou à microstructure complexe. Les systèmes AltiSurf© combinent plusieurs technologies de mesure optique pour répondre aux exigences de la recherche comme de la production.
Indentation — Dureté et comportement mécanique local
L'analyse d'une trace d'indentation fournit des informations précieuses sur les propriétés mécaniques d'un matériau. Nos instruments mesurent avec précision la profondeur résiduelle de l'empreinte et le volume de matière repoussée autour du contact. Ces données permettent d'évaluer la dureté locale, l'élasticité et la ductilité du matériau — des paramètres essentiels pour qualifier des revêtements, des traitements thermiques ou des matériaux nouveaux.
Sablage — Caractérisation de l'état de surface traité
Le sablage est un procédé de préparation de surface largement utilisé pour améliorer l'adhérence des revêtements ou modifier les propriétés tribologiques d'une pièce. Altimet permet de caractériser l'état de surface résultant du sablage à l'aide des paramètres normalisés ISO 25178 : rugosité, profil des crêtes, densité des pics. Une mesure objective et reproductible pour valider les procédés et garantir la qualité des traitements de surface.
Analyse de films minces — Épaisseur et couverture
La mesure de films minces déposés sur un substrat est une problématique récurrente en chimie et cosmétique. Nos instruments mesurent l'épaisseur de dépôts très fins — crèmes, vernis, encres, revêtements fonctionnels — en cartographiant la topographie de la surface avant et après dépôt. L'exemple de la mesure d'épaisseur de crème solaire sur réplique de peau PMMA illustre la sensibilité et la polyvalence de nos systèmes sur des substrats à forte variabilité de surface.
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Notre équipe d'experts est à votre disposition pour étudier vos besoins spécifiques et vous proposer la solution de métrologie la plus adaptée.
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